以采取45奈米制程的DDR3为例,测试点(Test Pad)随着IC晶粒而缩小,探针卡的针距也跟着缩短,整体探针卡缩小化,每个待测点(DUT)也必须缩小组织,制造探针卡技术难度提高。
基于78个网页-相关网页
目视 10 倍目镜 MI 测试锡垫(Test Pad) (1) 沾油墨/异物 (2) 缺口/凹陷 (3) 露铜 测试锡垫(Test Pad)位于焊锡面, 若 (1) 沾油墨/异物 (2) 缺口/凹陷 (3) 露铜,允收原...
基于8个网页-相关网页
ATE TEST-PAD 测试点
lamp test pad 灯试验底座
static test pad 静力试验场
pad test 护垫试验
External Key Pad Test 外接式键台测试
foot pad test 足垫试验
pad sediment test 垫法杂质度试验
pad-test 垫试验
The carrier tape includes a test pad for analyzing the fluid.
该载带包括用于分析流体的测试垫片。
The top metal test pad, special test mode and BIST are adopted in the IC circuits to solve the IC test problem about the chip function test and electric character test.
通过添加测试引脚、设计专用测试模式,内建自测试等方法有效的解决了该芯片电路的功能测试和电气性能测试。
There is also a patch test in which an ethanol-soaked pad is applied to the skin.
还有另外一种测试方法,就是在皮肤上帖一个用酒精浸湿后的贴布。
应用推荐